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佰视特智能技术(东莞)有限公司主要经营产品:一键式测量仪,一键式影像测量仪,三维表面轮廓仪,3D曲面玻璃检测,手机中框高度检测,三维表面形貌仪等,公司为客户提供一站式全套精密检测系统,节省人力、提率提升企业竞争力。

    佛山三维表面轮廓仪加工厂
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    佛山三维表面轮廓仪加工厂

    更新时间:2020-05-24   浏览数:28
    所属行业:仪器仪表 光学仪器 影像仪
    发货地址:广东省东莞市松山湖  
    产品规格:
    产品数量:9999.00台
    包装说明:
    单 价:面议
    三维表面轮廓仪在测量中是如何计算测量的移动平均
    三维表面轮廓仪的光谱共焦技术对于位移测量的稳定性远远高于传统的激光位移传感器,所以专业的三维表面轮廓仪光谱共焦位移传感器输出测量值时是不加任何的移动平均的,多数低端光谱共焦位移传感器因为自身稳定性差,都需要加1024次甚至更高的移动平均来让测量数据稳定下来。移动平均大的问题就是在运动测量中让测量数据完全偏离被测表面真实形状。三维表面轮廓仪的光谱共焦位移传感器正常模式下均采用无移动平均模式测量。
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    三维表面轮廓仪之核心部件光谱共焦传感器的特性是什么?
    使用光谱共焦传感器的特性主要有以下
    使用光谱共焦测量技术,可以得到超高分辨率。纳米级分辨率源于上述经过特殊处理得到的加长光谱范围。由于采用检测焦点的颜色,得到距离信息,光谱共焦传感器可以采用非常小的测量光斑,从而允许测量非常小的被测物体。这也意味着,即使被测表面有非常轻微的划痕,也逃不过光谱共焦传感器的眼睛。
    由于三维表面轮廓仪光谱共焦传感器的光路非常紧凑和集中,使其非常适合测量钻孔结构。而其他测量方式,如激光三角反射式测量,对于小孔往往无能为力,因为小孔形成的阴影会遮挡反射光的光路,无法进行测量。针对这种小孔测量任务,三维表面轮廓仪的微型光谱共焦传感器探头。这种探头拥有仅4mm的探头直径,可以探入小孔内部进行测量。
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    三维表面轮廓仪
    三维表面轮廓仪之核心部件光谱共焦传感器详解:
    (1)数据在配置PRIMA控制器情况下得出;
    (2)量程数值为配置特定控制器得出,在一般情况下可适当调整量程,但可能会影响测量性能;
    (3)工作距离是指测量头与量程起始点距离,该数据在配置PRIMA控制器情况下得到,通常CL0、CL2、CL3和CL4型号可能存在±3%偏差,CL1、CL5和CL6型号可能存在±6%偏差;
    (4)大可测倾角是指测量镜面反射表面时的极限角度值,测量漫反射表面时该角度可达87° ;
    (5)此数据为聚焦点在量程中间处计算得出,量程开始端与结束端的光斑数值存在约10%差异;
    (6)横向分辨率是在测量突变光度时得到的10%-90%转换距离,该值在量程中间处测得;
    (7)光量收集率是指测量同一样品情况下各个测量头收集到的能量,数据为相对单位数值。在测量高度反射样品时为了防止数据饱和,应选择低光量收集率型号测量头;在测量扩散或者低反射的样品时,为了避免较低的信噪比,应选择高光量收集率型号测量头;
    (8)静态噪音(SN)是指在量程中间处测得处于完全静态的样品的RMS噪音值,表中的两个SN值包括一个未平均值和一个10次平均值。这些值为大的可接受值。该值是在测量头校准之后测的,并在出厂报告中标注。SN值决定了传感器的垂直分辨率。 (9)数据由1nm精度的编码器做比较校准,由传感器测量距离时,在整个测量范围内的大误差。此数据为校准后立即获取,该数据的设置条件为:特定测量频率,0°倾角, 内部平均10次;
    (10)测量Ra的精度取决于样品特性,R表示推荐用于测量粗糙金属样品,NR表示不推荐用于测量粗糙金属样品;
    (11)在厚度测量模式下,测量精度取决于样品特性。为了获得更好的厚度测量结果,应采用厚度标定方法获取样品折射系数或导入样品折射系数文件;
    (12)该数据为在如下设置下获得的典型值:良好测量频率,数据无平均,样品折射系数1.5,在量程范围的中心获得;
    (13)初始参数; FocalSight、FocalScan光谱共焦传感器提供纳米级、高10KHz的Z方向高度数据。 传感器配备控制器、光纤和测量头。根据实际测量场景,控制器提供单通道、双通道和四通道选择,测量头也可依据量程和分辨率等要求进行配置。通过优化配置控制器和测量头,可为工业应用输出更为经济、性能强大和稳定的测量能力。
    如此在实际工业的测量应用中三维表面轮廓仪发挥着强大的量测功能作用。佰视特三维表面轮廓仪助力您前行!!!
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    佰视特三维表面轮廓仪(3D Profiling)
    该仪器采用白光轴同轴色散原理(性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪)对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量,测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌,台阶高度,给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案
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